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ZB J04 005-87滲透探傷方法
日期：2025-08-01 22:56
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摘要：
ZB J04 005-87滲透探傷方法
中華人民共和國專業標準
ZBJ04005-87
滲透探傷方法
本標準規定了檢驗表面開口缺陷的滲透探傷方法及缺陷顯示痕跡的等級分類。
1 一般事項
1.1探傷前應預先考慮到被檢物表面上可能出現的缺陷種類及大小，被檢物的用途、表面粗糙度、數量和尺寸以及探傷劑的性質，然后選擇適當的方法及確定操作細則。
1.2本標準中的等級分類適用于*終加工面上缺陷的顯示痕跡。合格等級應事先由供需雙方協商確定。
1.3從事探傷或缺陷等級評定的人員，必須持有國家有關主管部門頒發的并與其工作相適應的無損檢測人員技術資格證書。
1.4滲透探傷劑應配套使用，不同型號的滲透探傷劑不能混用。
2 術語定義
2.1滲透時間 指施加滲透劑到開始乳化處理或清洗處理之間的時間，包括排液所需的時間。
2.2乳化處理 將乳化劑施加到被檢物表面的操作。
2.3乳化時間 從施加乳化劑到開始清洗處理的時間。
2.4去除處理 擦去附著在被檢物表面的溶劑去除型滲透劑的操作。
2.5顯象處理 在干式顯象法中，指施加顯象劑到開始觀察的時間；在濕式顯象法中，指從顯象劑干燥到開始觀察的時間。
2.6缺陷顯示痕跡 滲入缺陷中的滲透劑在被檢表面析出時呈現的痕跡。
2.7假缺陷顯示 不是由于缺陷所造成的顯示痕跡。
2.8 其它術語定義參見JB3111-82《無損檢測名詞術語》。
3 探傷方法
3.1 探傷方法分類
根據滲透劑種類和顯像劑種類的不同，滲透探傷方法按表1和表2分類。
表１按滲透劑種類分類的滲透探傷方法
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方 法 名稱│ 滲透劑種類 │ 方 法 代 號
───────┼─────────────┼──────
│ 用水洗型熒光滲透劑 │ ＦＡ
熒光滲透 ├─────────────┼──────
│ 用后乳化型熒光滲透劑 │ ＦＢ
探 傷 ├─────────────┼──────
│ 用溶劑去除型熒光滲透劑 │ ＦＣ
───────┼─────────────┼──────
│ 用水型著色滲透劑 │ ＶＡ
著色滲透 ├─────────────┼──────
│ 用后乳化型著色滲透劑 │ ＶＢ
探 傷 ├─────────────┼──────
│ 用溶劑去除型著色滲透劑 │ ＶＣ
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注:用于后乳化型熒光滲透劑的乳化劑有油基和水基兩種.
表２按顯像方法分類的滲透探傷方法
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方 法 名稱│ 顯像劑種類 │ 方 法 代 號
───────┼─────────────┼──────
干式顯像法 │ 用干式顯像劑 │ Ｄ
───────┼─────────────┼──────
│ 用濕式顯像劑 │ Ｗ
濕式顯像法 ├─────────────┼──────
│ 用快干式顯像劑 │ Ｓ
───────┼─────────────┼──────
無顯像劑顯像法│ 不用顯像劑 │ Ｎ
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3.2 探傷步驟
按表1、表2中各方法的組合使用，其探傷步驟見表3的順序。
3.3 探傷操作
3.3.1 前處理
3.3.1.1向被檢物表面施加滲透劑前，必須徹底**妨礙滲透劑滲入缺陷的油脂、涂料、鐵銹、氧化皮及污物等附著物以及殘留在缺陷中的油脂及水份。
3.3.1.2根據附著物的種類、污染程度以及被檢物材質的不同，可分別采用溶劑清洗、蒸汽清洗、涂膜剝離、堿洗和酸洗等方法進行**處理。不允許采用噴砂、噴丸等可能堵塞缺陷開口的方法。
3.3.1.3對被檢物表面進行局部探傷時，準備工作范圍應從探傷部位四周向外擴展25mm。
3.3.1.4準備工作后，必須使被檢物表面上預清洗過程中殘留的溶劑、清洗劑和水份等充分干燥。
3.3.1.5 必須根據ZBJ04003-87《控制滲透探傷材料質量的方法》確認探傷劑符合要求。
3.3.2 滲透處理
3.3.2.1滲透處理可根據被檢物的數量、尺寸、形狀以及滲透劑的種類選用浸漬、噴灑和涂刷等方法，并在規定的時間內保持滲透劑將探傷部位的表面全部潤濕。
3.3.2.2滲透時間取決于滲透劑的種類、被檢物的材質、預測缺陷的種類及大小,以及被檢物和滲透劑的溫度，一般在15-50℃范圍內以表4所列時間為基準。在3-15℃的范圍內應根據溫度適當增加滲透時間；超過5℃或低于3℃時，則應根據滲透劑的種類和被檢物的溫度等另行考慮決定。
某些特殊滲透劑的滲透時間可不受表4所限，但在試驗報告內必須加以說明。
表３ 探 傷 步 驟
探傷方 探傷步驟
所使用的滲透劑
和顯象劑種類 法代號│前處│滲│乳│清│去│干│顯│干│觀│后處
理 透 化 洗 除 燥 像 燥 察 理
水洗型熒光滲透劑-干式顯像劑FA-D o →o------→o-------→o→o------→o---→o
水洗型熒光滲透劑或水洗型著色
滲透劑----濕式顯像劑 FA-W o---→o--·--→o---·---→o→o→o--→o
VA-W
水洗型熒光滲透劑或水洗型著色
滲透劑----快干式顯像劑 FA-S o---→o-·--→o--- ·→o-→o-----→o--→o
VA-S
水洗型熒光滲透劑-不用顯像劑FA-N o---→o-------→o-------→o-------------→o--→o
后乳化型熒光滲透劑-干式顯像劑FB-Do--→o-→o-→o-------→o-→o-----→o---→o
后乳化型熒光滲透劑-濕式顯像劑FB-Wo-→o-→o-→o--------------→o-→o→o-→o
后乳化型熒光滲透劑-快干式顯像劑FB-So→o→o→o-------→o→o-------→o-→o
溶劑去除型熒光滲透劑-干式顯像FC-Do---→o---------------→o-----→o-------→o--→o
溶劑去除型熒光滲透劑或 FC-Wo---→o---------------→o-----→o--→o→o-→o
溶劑去除型著色滲透劑-濕式顯像劑 VC-W
溶劑去除型熒光滲透劑或 FC-So---→o---------------→o-------→o--------→o→o
溶劑去除型著色滲透劑-快干式顯像劑VC-S
溶劑去除型熒光滲透劑-不用顯像劑FC-No→o------------→o--------------------→o→o
后乳化型著色滲透劑-干式顯像劑VB-D o→o-→o--→o-------→o-→o----→o→o
后乳化型著色滲透劑-濕式顯像劑VB-Wo--→o→o--→o--------→o--→o--→o→o
后乳化型著色滲透劑-快干式顯像劑VB-So-→o→o-→o→o→o→o→o→o→o
3.3.2.3在進行乳化或清洗處理前，對被檢物表面所附著的殘余滲透劑要盡可能滴干。
使用水基乳化劑時，應用水噴法排除多余的滲透劑；如無特殊規定，水壓一般在14ＭＰa(1.4kgf/平方厘米)左右。
3.3.3 乳化處理
3.3.3.1可采用浸漬、澆注、噴灑等方法將乳化劑施加于被檢物表面，乳化必須均勻。
3.3.3.2乳化時間取決于乳化劑和滲透劑的性能及被檢物表面粗糙度。原則上用油基乳化劑的乳化時間在2min內，用水基乳化劑的乳化時間在5min內。
3.3.4 清洗處理和去除處理
3.3.4.1清洗處理和去除處理是為了去除附著在被檢物表面的殘余滲透劑；在處理過程中既要防止處理不足而造成對缺陷顯示痕跡識別的困難，同時也要防止處理過度而使滲入缺陷中的滲透劑也被洗去。用熒光滲透劑時，可在紫外線照射下邊觀察處理程度、邊進行操作。
3.3.4.2水洗型及后乳化型滲透劑均用水清洗，使用噴咀時的水壓，在沒有特殊規定情況下應不大于34ＭＰa(3.5kgf/平方厘米)。
表4 滲透時間和顯像時間(指*少時間)
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│ │ │各種方法的滲透劑
材 質 │ 形 態 │ 缺陷種類 ├────┬────
│ │ │滲透時間│顯像時間
│ │ │ min │ min
──────────┼──────────┼──────────┼────┼───
鋁、鎂、鋼鐵、黃銅、│鑄件、焊接件 │泠疤、氣孔、熔融 │ 5 │ 7
│ │**、裂紋 │ │
├──────────┼──────────┼────┼────
青銅、鈦、耐熱合金 │軋制棒材、鍛件、板材│鱗狀缺陷、裂紋 │ 10 │ 7
──────────┼──────────┼──────────┼────┼───
帶硬質合金刀片的工具│ │熔融**、氣孔、斷裂│ 5 │ 7
──────────┼──────────┼──────────┼────┼───
塑 料 │ 各種形態 │ 裂 紋 │ 5 │ 7
──────────┼──────────┼──────────┼────┼───
玻 璃 │ 各種形態 │ 裂 紋 │ 5 │ 7
──────────┼──────────┼──────────┼────┼───
陶 瓷 │ 各種形態 │ 裂 紋 │ 5 │ 7
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注:表中以外的其它缺陷種類，其滲透時間和顯像時間不受表4限制.
3.3.4.3溶劑去除型滲透劑用清洗劑去除。除了特別難于去除的場合外，一般都用蘸有清洗劑的布和紙擦拭；不得往復擦拭，不得將被檢件浸于清洗劑中或過量地使用清洗劑。
3.3.5 干燥處理
3.3.5.1在使用濕式顯像劑時，經3.3.6.2條處理后，應使附著于被檢物表面的顯像劑迅速干燥。
使用干式或快干式顯像劑時，干燥處理應在顯像處理前進行。
被檢物表面的干燥溫度應控制在示大于52℃范圍。
3.3.5.2用清洗劑去除時，應自然干燥或用布或紙擦干，不得加熱干燥。
3.3.6 顯像處理
3.3.6.1用干式顯像法時經3.3.5.1條處理后，用適當方法將顯像劑均勻地覆蓋在整個被檢物表面上，并保持一定時間。
3.3.6.2用濕式顯像劑時，被檢物經清洗或**處理后可直接浸入濕式顯像劑中，也可將顯像劑噴灑、涂刷到被檢物上，然后迅速排除殘余顯像劑，再按3.3.5.1條進行處理。
3.3.6.3用快干式顯像劑時，先要經過3.3.5.1條處理，然后再噴灑或涂刷顯像劑，但切不可將被檢物浸于顯像劑中。噴涂上顯像劑后，應進行自然干燥或用低溫空氣噴吹干燥。
3.3.6.4用濕式及快干顯像劑時，顯像劑應噴涂得薄而均勻，以略能看出被檢物表面為宜，不要在同一部位反復涂敷。
3.3.6.5顯像時間取決于顯像劑的種類、預計的缺陷種類和大小以及被檢物的溫度等因素。一般在15-50℃范圍內按表4所列的時間為宜；特殊顯像劑的顯像時間可不受表4所限，但在試驗報告內必須加以說明。
3.3.7 觀察
3.3.7.1觀察顯示的痕跡應在顯像劑施加后7-30min內進行，如顯示痕跡的大小不發生變化，則可超過上述時間。
3.3.7.2熒光滲透探傷時，觀察前要有5min以上的時間使眼睛適應暗室，被檢物表面上的標準熒光強度應大于50Lx(按GB5097-85黑光源的間接評定方法測定)。著色滲透探傷時應在350Lx以上的可見光下進行觀察。
3.3.7.3當出現顯示痕跡時，必須確定此痕跡是真缺陷還是假缺陷顯示；如無法確定，則應進行復驗或對該部分進行放大觀察，或用其它方法進行驗證。
3.3.8 復驗
在探傷過程中探傷結束后，若發現下列情況必須重新將試件徹底清洗干凈進行檢驗：
a.探傷結束時，用對比試塊(見ZBJ04003附錄A)驗證；
b.發現靈敏度下降難以確定痕跡是真缺陷還是假缺陷顯示時；
C.供需雙方有爭議或認為有其它需要時；
d.若難于按第6條規定對缺陷顯示痕跡作等級分類時，必須通過復驗或用供需雙方同意的方法加以驗證。
3.3.9 后處理
探傷結束后，為了防止殘留的顯像劑腐蝕被檢物表面或影響其使用，必要時應**顯像劑。**方法可用刷洗、噴氣、噴水、用布或紙擦除等方法。
4 探傷劑
4.1探傷劑包括滲透劑、乳化劑、清洗劑、顯像劑。
4.2 探傷劑必須具有良好性能。控制探傷劑的質量要求見ZBJ04 003。
4.3在某些特殊要求的場合，例如對氯、氟含量及含硫量等需要加以限制時，可由供需雙方協商。
5 對比試塊
對比試塊應符合ZB J04003附錄A的要求。
6 缺陷顯示跡痕的等級分類
6.1 缺陷顯示跡痕的種類
缺陷顯示跡痕按其形狀及集中程度可分為三種：
a.線性缺陷顯示跡痕 其長度為寬度三倍以上的缺陷痕跡；
b.圓狀缺陷顯示跡痕 除了線性缺陷顯示跡痕之外的其它缺陷，均為圓狀缺陷顯示跡痕；
C.分散狀缺陷顯示跡痕 在一定區域內存在幾個缺陷顯示痕跡。
6.2 缺陷顯示跡痕的等級分類
6.2.1線狀和圓狀缺陷顯示跡痕的等級分類根據其長度按表5進行。
表５線狀和圓狀缺陷顯示跡痕的等級分類
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等 級 分 類 │ 缺陷顯示跡痕的長度
─────────────────┼──────────────────
１級 │ ≥１ ＜２
─────────────────┼──────────────────
２級 │ ≥２ ＜４
─────────────────┼──────────────────
３級 │ ≥４ ＜８
─────────────────┼──────────────────
４級 │ ≥８ ＜１６
─────────────────┼──────────────────
５級 │ ≥１６ ≥３２
─────────────────┼──────────────────
６級 │ ≥６４ ＜３２
─────────────────┼──────────────────
７級 │ ＜６４
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6.2.2分散狀缺陷顯示跡痕的等級分類根據表6所列數值進行，在2500平方毫米矩形面積內(矩形**邊長為150mm)長度超過1mm缺陷顯示跡痕的總和。
表６分散狀缺陷顯示跡痕的等級分類 mm
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等 級 分 類 │ 缺陷顯示跡痕的長度總和
─────────────────┼──────────────────
１級 │ ≥２ ＜４
─────────────────┼──────────────────
２級 │ ≥４ ＜８
─────────────────┼──────────────────
３級 │ ≥８ ＜１６
─────────────────┼──────────────────
４級 │ ≥１６ ＜３２
─────────────────┼──────────────────
５級 │ ≥３２ ＜６４
─────────────────┼──────────────────
６級 │ ≥６４ ＜１２８
─────────────────┼──────────────────
７級 │ ≥１２８
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6.2.3當有2個或2個以上缺陷顯示跡痕大致在同一條連線上、同時間距又小于2mm
時，則應看作是一個連續的線狀缺陷顯示跡痕(包括跡痕長度和間距)。當缺陷顯示
跡痕中*短的跡痕長度小于2mm而間距又大于顯示跡痕時，則可看作單獨的缺陷顯示跡痕；間距小于顯示跡痕時，則可看作密集型的缺陷顯示跡痕(參照6.2.2條，按表6評定缺陷顯示跡痕的長度總和等級)。
7 探傷結果的標識與記錄
7.1 缺陷顯示
缺陷顯示跡痕可根據需要分別用照相、示意圖或描繪等方法記錄。
7.2 被檢物表面
探傷后的被檢物表面如需特別標明時，應使這些記號永遠保留。
7.2.1大批量探傷時，對每一個合格品應用印記或腐蝕法以Ｐ符號標識；如在上述方法有困難時，可用顏色標上Ｐ符號。用Ｐ符號標識有困難時可用標色記號法。在被檢物表面上無法制造標記時，可采用其它方法標記。
7.2.2抽樣探傷時，對成批合格產品按7.2.1條方法用Ｐ符號或標色記號法標識。
7.2.3在有缺陷的被檢物上涂料或粉筆等標出缺陷位置。
7.3 探傷記錄
探傷記錄應按試驗報告要求記錄，試驗報告格式內容如下：
滲透探傷試驗報告 Ｎo
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委托單位:
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工件名稱及編號:
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檢驗目的:
────────────────────────────────────
被檢區域:
────────────────────────────────────
探傷環境氣溫(15℃以下或50℃以上必須記錄):
────────────────────────────────────
滲透劑溫度(15℃以下或50℃以上必須記錄):
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
試件形狀和尺寸、材質、表面狀態:
探傷方法的種類:
滲透劑、乳化劑、清洗劑、顯像劑的名稱:
操作方法:
a.探傷前處理方法;
b.滲透劑施加方法;
C.乳化劑施加方法;
d.清洗方法或去除方法;
e.干燥方法;
f.顯像劑施加方法。
操作條件:
a.滲透時間;
b.乳化時間;
C.清洗水的水壓;
d.干燥溫度及時間；
e.顯像時間及觀察時間。
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探傷結果:
a.有無缺陷;
b.按照7.1條指出缺陷顯示跡痕的位置與形狀,并附草圖或照相;
C.按照第6條記錄缺陷顯示跡痕的等級分類。
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探傷人員姓名、技術資格、探傷日期。
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附加說明:
本標準由上海材料研究所提出并歸口。
本標準由上海材料研究所負責起草。
本標準主要起草人密中玉。
國家機械工業委員會批準 1988-01-01實施
